東京大学 武田先端知ビル Takeda-Sentanchi Bldg.
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AIMD-先端知機能材料デバイスラボラトリーズ-Advanced Intellectual Materials and Devices Laboratories
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超高圧電子顕微鏡(JEM-ARM-1250) 透過型分析電子顕微鏡(JEM-2010F)
超高圧電子顕微鏡
(JEM-ARM-1250)
透過型分析電子顕微鏡
(JEM-2010F)
0.1nmの原子直視型超高圧透過型高分解能電子顕微鏡 電解放出型電子銃。EDS, EELS, STEM-HAADF観察が可能。
高分解能FE-SEM(JSM 7000F) 汎用透過型電子顕微鏡群
高分解能FE-SEM
(JSM 7000F)
汎用透過型電子顕微鏡群
試料のマクロ領域分析等に使用。
カソードルミネッセンス等各種分析可能。
 
上記の他にも多数の有用な装置を多数提供致します。
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